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TESA ETALON TCM200測量顯微鏡

  • 更新日期:2024-10-26

模塊化結構設計, 可根據需要進行光學長度測量或表面金相檢驗. 優化的照明系統, 精密滾珠軸承工作臺(150X100, 250X150mm 兩種), 線性金屬光柵尺組成的光電測量系統, 計算機內核的數據處理單元, RS232 數字輸出, 出廠前的檢驗合格證書.

       蘇州勒豐精密儀器有限公司(德日維修部)專業從事日本三豐,德國馬爾等品牌,以“質量*”為宗旨,向范圍的廣大市場提供千分尺,卡尺等量具;三坐標測量機,形狀測量系統,視像測量系統,光學儀器等系統精密測量儀以及專業維修服務中心。公司技術力量雄厚,多名工程師都是來自世界*的量具生產企業,配件采用日本*,計量試驗室儀器都是進口測量儀器,為客戶解決維修后精度不良的后顧之憂,品質服務由計量質量檢測部門支持并出具相關維修產品的檢測報告,并與日本三豐“Mitutoyo”總代理建立有長期穩定的合作關系。是大陸地區*的量具量儀銷售及維修服務商之一。

主要特征

模塊化結構設計, 可根據需要進行光學長度測量或表面金相檢驗. 優化的照明系統, 精密滾珠軸承工作臺(150X100, 250X150mm 兩種), 線性金屬光柵尺組成的光電測量系統, 計算機內核的數據處理單元, RS232 數字輸出, 出廠前的檢驗合格證書. 

· 三坐標的非接觸測量,無測量力

· 測量分辨率0.5μm

· zui小的允許誤差保證了測量的高精度, 如150mm 長度測量的允許誤差僅為2.6μm

· 寬大的測量空間, 長度方向沒有空間限制

· 放大倍率達1000倍的表面結構檢驗, 光源照明充分

· 視頻攝像系統可進一步進行圖像分析

主機及其配置

 

訂貨號/Order Number

06839006

06839007

06839008

06839009

帶雙目鏡的主機

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35瓦透射冷光源

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90瓦反射冷光源

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測量范圍為150X100毫米的工作臺

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測量范圍為250X150毫米的工作臺

 

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可進行Z軸測量

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數據處理單元

QUADRA-CHECK 220

 

 

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QUADRA-CHECK 230

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技術指標

 

訂貨號

06839006

06839007

06839008

06839009

測量范圍(mm)

150 X 100

250 X 150

150 X 100

250 X 150

軸向zui大允許誤差

(1.8+0.005L) μm, (L in mm)

(2.5+0.01L) μm (L in mm)

(1.8+0.005L) μm (L in mm)

(2.5+0.01L) μm (L in mm)

主機重量

110kg

140kg

110kg

140kg

外型尺寸(寬X高X深)

356 X 662 X 540

 

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